| 品牌 | 昊量光電 | 價格區(qū)間 | 1萬-5萬 |
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| 組件類別 | 光學(xué)元件 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
6433P光波元件分析儀
（調(diào)制頻率范圍覆蓋： 10MHz~110GHz）
一、6433P光波元件分析儀概述
6433P 光波元件分析儀是面向高速電光器件、光電器件及光光器件調(diào)制特性測試的儀器，頻率范圍覆蓋10MHz~110GHz，集成電電測試、電光測試、光電測試及光光測試4種測試模式，6433P 光波元件分析儀具有對數(shù)/線性幅度、相位、群時延、Smith圓圖、極坐標等多種顯示格式，能夠精確測量光電網(wǎng)絡(luò)的幅/相頻特性，主要應(yīng)用于高速電光器件（電光強度調(diào)制器、直接調(diào)制激光器、光發(fā)射組件）、光電器件（探測器、光發(fā)射組件、探測器芯片）及光光器件（光衰減器、EDFA）的帶寬、幅/相頻、群時延等頻響參數(shù)的測試。
二、6433P 光波元件分析儀產(chǎn)品特點
10MHz~110GHz 寬頻帶同軸覆蓋；
頻率分辨率1Hz；
測試功能豐富，具備傳輸、反射等多種參數(shù)測試功能；
一體化多功能測試界面；
向?qū)叫始耙绘I式快速掃頻測試；
多窗口顯示及快速分析；
自動夾具移除，快速獲取探針數(shù)據(jù)；具有USB、LAN等接口和SCPI程控指令集，可實現(xiàn)自動測試
三、6433P 光波元件分析儀功能描述
10MHz~110GHz 寬頻帶同軸覆蓋
6433P 光波元件分析儀調(diào)制頻率高達110GHz，頻率分辨率為1Hz，可實現(xiàn)高速寬頻帶光器件及光芯片調(diào)制特性測試
一體化多功能測試向?qū)Ы缑?/span>
6433P 光波元件分析儀具備電電、電光、光電、光光四種測量模式，功能模式之間可任意切換，可滿足光器件的S參數(shù)、阻抗、時域等參數(shù)測量需求。一體化多功能界面方便用戶快速完成測量模式、光波參數(shù)、光路去嵌入?yún)?shù)、射頻去嵌入等參數(shù)的設(shè)置。
向?qū)叫始耙绘I式測試
6433P 光波元件分析儀進行微波域的電電校準及光波域的光路校準時，采用向?qū)叫?，方便用戶對儀器進行快速校準，獲得被測件準確的測試結(jié)果。同時采用一體化集成設(shè)計方案，利用核心算法，實現(xiàn)電光/光電/光光器件一鍵式寬帶快速掃頻測試。
多窗口快速顯示及分析
6433P 光波元件分析儀支持64個測量通道，32個測量窗口，每個窗口可同時顯示16條測試軌跡，可實現(xiàn)結(jié)果的多窗口、多格式顯示。
高分辨率多點觸控電容屏可快速實現(xiàn)各種輸入和選擇操作，快捷高效，便于用戶快速分析數(shù)據(jù)，為用戶提供全新的光波元件分析儀操作體驗。
自動夾具移除，快速獲取探針數(shù)據(jù)
6433P 光波元件分析儀利用自動夾具移除功能可快速解決光芯片S參數(shù)測試難題。測試時，將高頻探針等效為夾具，通過自動夾具移除功能測量高頻探針的時域參數(shù)，利用信號流圖提取頻域參數(shù)，形成s2p文件，進而通過射頻去嵌入，實現(xiàn)光芯片的高精度S參數(shù)測試。
四、6433P 光波元件分析儀產(chǎn)品參數(shù)
五、6433P 光波元件分析儀典型應(yīng)用
單端光器件測試
針對電光調(diào)制器、直接調(diào)制激光器等電光器件的S11參數(shù)和S21參數(shù)測試，利用多窗口顯示可快速獲取測試對象的各頻點反射和傳輸特性；針對光電探測器、ROSA、TIA集成組件等光電器件的S22參數(shù)和S21參數(shù)測試，利用光標功能可快速分析3dB帶寬，評估器件的頻響特性；針對光纖濾波器等光光器件的S21參數(shù)測試，可快速實現(xiàn)損耗、平坦度等指標的測量。
幅頻特性測試）
利用儀器提供的多種顯示模式,可實現(xiàn)相位、群時延等信息的顯示，可快速實現(xiàn)相頻特性等指標的測量。
（相頻特性測試）
平衡光器件測試
光波元件分析儀通過配置四端口機型，實現(xiàn)平衡光發(fā)射或光接收器件對差分增益和共模抑制參數(shù)的測試需求，更加貼合現(xiàn)有和未來高速光纖通信領(lǐng)域中多端口參數(shù)的測量場合。
光芯片在片測試
6433P 光波元件分析儀搭配探針臺及高頻探針，可實現(xiàn)電光/光電芯片的頻響參數(shù)的測試。
自動化測試
6433P 光波元件分析儀提供標準的SCPI程控指令集，方便用戶進行遠程控制。通過網(wǎng)口，只需完成設(shè)備的互聯(lián)，發(fā)送命令即可實現(xiàn)一體化的自動測試方案，方便用戶將光波元件分析儀與溫控、數(shù)字源表及被測件等共同搭建光芯片測試系統(tǒng)。
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